|

Главная

Контакты

Словарь

 ► Развитие сварочного производства
 ► Сварные соединения и швы
 ► Сварочная дуга
 ► Металлургические процессы при дуговой сварке
 ► Источники питания дуги
 ► Сварочные материалы
 ► Технология ручной дуговой сварки покрытыми электродами
 ► Деформации и напряжения при сварке
 ► Сварки в защитных газах
 ► Сварки под флюсом
 ► Электрошлаковая сварка
 ► Особенности сварки различных видов
 ► Высокопроизводительные способы сварки
 ► Дуговая сварка углеродистых и легированных сталей
 ► Сварки чугунов
 ► Сварки цветных металлов и их сплавов
 ► Технология сварки тугоплавких и разнородных металлов
 ► Сварки пластмасс
 ► Дуговая наплавка и напыление
 ► Технология производства сварных конструкций
 ► Дуговая резка
 ► Качество сварочных работ. Сварные дефекты. Контроль качества
 ► Основы технического нормирования сварочных работ
 ► Охрана труда при сварке и резке
 ► Сварочное производство
 ► Сварка и пайка в микроэлектронике
 ► Другие методы сварки
 ► Сварка и пайка схем на печатных платах и микромодулей
 ► Сварка и пайка проводников с тонкими пленками в гибридных схемах
 ► Монтаж в корпусе и герметизация полупроводниковых приборов и микросхем
 ► Технологическое оборудование для сварки и пайки микроэлектронных схем









Испытания на герметичность

Испытания на герметичность готовых приборов являются одним из важных способов для оценки качества герметизации корпусов и отбраковки потенциально ненадежных приборов и схем.

Не герметичность определяется по величине течи. За единицу измерения принята такая течь, при наличии которой в вакуумном объеме в 1 л давление возрастает на 1 мкм рт. ст. за 1 сек. Другая единица измерения определяет такую течь, .в результате которой под действием давления в 760 мм рт. ст. (атмосфера — вакуум) в 1 сек пройдет количество газа, занимающего при атмосферном давлении объем в 1 см3 [55].

Методы контроля герметичности делятся на косвенные и прямые. К косвенным методам относятся испытания в камере влаги и испытания в водяной бомбе. Оценка производится путем выдержки приборов и измерения электрических параметров приборов. Чувствительность методов составляет 10-2—10-4 л•мкм1сек.

К прямым методам контроля герметичности относятся:

  1. испытание в горячей масляной ванне;
  2. испытания вакуумно-жидкостным методом;
  3. масс-спектрометрический метод (с помощью гелиевого течеискателем);
  4. радиоактивационный метод (с помощью радиоактивного газа).

При контроле герметичности в масляной ванне прибор в герметизированном корпусе опускается в масло и герметичность оценивается по выделению пузырьков газа. Этот метод может быть использован для обнаружения значительных утечек. Чувствительность метода составляет 10-2—10-3 л • мкм/сек.

При вакуумно-жидкостном методе приборы помещают в жидкость, а над ней создают вакуум. Выделяющиеся под действием перепада давления пузырьки газа наблюдаются визуально. Чувствительность метода равна 10~4— 10-5 лмкм/сек.

При контроле герметичности гелиевым течеискателем приборы герметизируются в атмосфере гелия или спрессовываются в камере с гелием. Затем их помещают в вакуумную камеру, соединенную с течеискателем. Камера с прибором откачивается  до  вакуума не хуже 5•10-5 мм рт. ст. [55], после чего вакуумный клапан закрывается и открывается клапан, соединяющий камеру с гелиевым течеискателем. Чувствительность метода составляет  10-5—10-9 лмкм/сек.

При контроле с помощью радиоактивного газа электронный прибор помещают в камеру, наполненную смесью азота и радиоактивного газа (например, ксенона 133 или криптона 85). При недостаточной герметичности газ скапливается внутри корпуса. Затем прибор вынимают из камеры и проверяют на радиоактивность. Степень разгерметизации-оценивается по уровню радиоактивности. Этот метод имеет максимальную чувствительность (10-3—10-10 л • мкм/сек), но длителен, требует сложного оборудования и специальных мер предосторожности.

Для предотвращения ложной браковки приборов следует учитывать возможность выделения газа из сварных швов, пор в краске и других микро зазоров, где может задерживаться газ.

Для оценки надежности готовых микросхем и выявления причин отказов различных типов приборов и схем начинают применяться новейшие методы интроскопии.

Например:

  1. для проверки качества полупроводниковых приборов и обнаружения мест повреждения в микросхемах с успехом могут быть применены сканирующие электронные микроскопы;
  2. для неразрушающих испытаний микроэлектронных приборов можно использовать микроэлектронный анализатор;
  3. для выявления материалов с одинаковой плотностью, ,но с различными атомными номерами применяется метод нейтронной радиографии.

Просмотров - 2389.

© 2013 svyatik.org - При использовании материала, должна быть ссылка на svyatik.org первоисточник.