|

Главная

Контакты

Словарь

 ► Развитие сварочного производства
 ► Сварные соединения и швы
 ► Сварочная дуга
 ► Металлургические процессы при дуговой сварке
 ► Источники питания дуги
 ► Сварочные материалы
 ► Технология ручной дуговой сварки покрытыми электродами
 ► Деформации и напряжения при сварке
 ► Сварки в защитных газах
 ► Сварки под флюсом
 ► Электрошлаковая сварка
 ► Особенности сварки различных видов
 ► Высокопроизводительные способы сварки
 ► Дуговая сварка углеродистых и легированных сталей
 ► Сварки чугунов
 ► Сварки цветных металлов и их сплавов
 ► Технология сварки тугоплавких и разнородных металлов
 ► Сварки пластмасс
 ► Дуговая наплавка и напыление
 ► Технология производства сварных конструкций
 ► Дуговая резка
 ► Качество сварочных работ. Сварные дефекты. Контроль качества
 ► Основы технического нормирования сварочных работ
 ► Охрана труда при сварке и резке
 ► Сварочное производство
 ► Сварка и пайка в микроэлектронике
 ► Другие методы сварки
 ► Сварка и пайка схем на печатных платах и микромодулей
 ► Сварка и пайка проводников с тонкими пленками в гибридных схемах
 ► Монтаж в корпусе и герметизация полупроводниковых приборов и микросхем
 ► Технологическое оборудование для сварки и пайки микроэлектронных схем









Схема установки для инфракрасной термографы

Рис. 5.6. Схема установки для инфракрасной термографы.

Для изучения теплового режима работы электронных схем наиболее успешно можно применять специальные установки для инфракрасной термографы. Схема установки для инфракрасной термографы приведена на рис. 5.6. После отражения от сканирующего зеркала 6 и фокусировки в фокусирующем устройстве 1 излучение 2 исследуемой схемы попадает на детектор инфракрасных лучей 10. Полученный в детекторе электрический сигнал проходит через предварительный усилитель 11, выпрямитель 8 и выходной усилитель 7, выход которого соединен с лампой тлеющего разряда 4. Свет этой лампы, являющийся функцией исследуемого инфракрасного излучения, после отражения от второго сканирующего зеркала 3, жестко соединенного с первым, попадает на фотопленку 5. Оценка температур производится либо сравнением со шкалой эталонных серых тонов, либо с помощью микрофотометра.

При применении специальной чувствительной пленки и можно производить измерения в пределах от —170 до +250° С чувствительностью до 0,05° С.

Просмотров - 1887.

© 2013 svyatik.org - При использовании материала, должна быть ссылка на svyatik.org первоисточник.