|

Главная

Контакты

Словарь

 ► Развитие сварочного производства
 ► Сварные соединения и швы
 ► Сварочная дуга
 ► Металлургические процессы при дуговой сварке
 ► Источники питания дуги
 ► Сварочные материалы
 ► Технология ручной дуговой сварки покрытыми электродами
 ► Деформации и напряжения при сварке
 ► Сварки в защитных газах
 ► Сварки под флюсом
 ► Электрошлаковая сварка
 ► Особенности сварки различных видов
 ► Высокопроизводительные способы сварки
 ► Дуговая сварка углеродистых и легированных сталей
 ► Сварки чугунов
 ► Сварки цветных металлов и их сплавов
 ► Технология сварки тугоплавких и разнородных металлов
 ► Сварки пластмасс
 ► Дуговая наплавка и напыление
 ► Технология производства сварных конструкций
 ► Дуговая резка
 ► Качество сварочных работ. Сварные дефекты. Контроль качества
 ► Основы технического нормирования сварочных работ
 ► Охрана труда при сварке и резке
 ► Сварочное производство
 ► Сварка и пайка в микроэлектронике
 ► Другие методы сварки
 ► Сварка и пайка схем на печатных платах и микромодулей
 ► Сварка и пайка проводников с тонкими пленками в гибридных схемах
 ► Монтаж в корпусе и герметизация полупроводниковых приборов и микросхем
 ► Технологическое оборудование для сварки и пайки микроэлектронных схем









Контроль рентгеновскими лучами

Контроль рентгеновскими лучами используется для обнаружения дефектов в герметизированных интегральных схемах.

бычно контроль производится рентгеновским излучением напряжением до 150 кв с получением изображения на видиконе, чувствительном к рентгеновскому излучению, и регистрацией изображения схемы на экране видеоконтрольного устройства (монитора). На экране монитора можно получить изображение схемы в масштабе 30:1.

ри этом выявляются различные дефекты в интегральных схемах: недостатки термокомпрессии или сварки, дефекты сварных швов при герметизации корпуса, неправильное выполнение монтажа, наличие внутри корпуса лишних проводников и других металлических частичек.

Просвечивание образцов позволяет определить разницу по толщине в пределах 0,5%. Разрешающая способность рентгеновского метода просвечивания может быть доведена до 0,1 мкм. Однако для обычных целей контроля микроэлектронных приборов достаточно разрешающей способности в несколько микрон.

Просмотров - 1945.

© 2013 svyatik.org - При использовании материала, должна быть ссылка на svyatik.org первоисточник.